Fluorescência de raios X
Análise de fluorescência de raios X, dispersão de energia (XRFA), de acordo com os padrões DIN ISO 3497 e ASTM B 568
Método de medição:
Análise de fluorescência de raios X com base no fenómeno em que, os átomos numa amostra material são excitados pela radiação X principal, os eletrões das camadas mais internas são libertados; as vagas resultantes são, então, preenchidas por eletrões das camadas mais externas.

Durante estas transições é gerada radiação fluorescente, característica de cada elemento. Esta é lida pelo detetor e fornece informação sobre a composição da amostra.
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